研究成就與看點

本研究由香港城市大學(xué)Prof. Alex K Y JEN和葉軒立教授團(tuán)隊發(fā)表于《先進(jìn)功能材料》（Advanced Functional Materials）期刊，成功開發(fā)出一種新型的自組裝單分子層（SAM），透過以剛性的苯基（phenyl）紫外線（UV）穩(wěn)定性、電荷提取效率與器件的整體效能。此一創(chuàng)新設(shè)計不僅促進(jìn)了SAM更緊密且有序的排列，同時也增強(qiáng)了電子在富電子咔唑（carbazole）單元中的離域性，基于此SAM的OPV器件實現(xiàn)了19.70%的功率轉(zhuǎn)換效率（PCE）1100小時的杰出運(yùn)行穩(wěn)定性（T80），同時展現(xiàn)出更強(qiáng)的抗紫外線輻射能力。

研究團(tuán)隊

該研究由香港城市大學(xué)材料科學(xué)及工程學(xué)系的Nan Zhang、Wenlin Jiang等人共同完成，通訊作者為任Alex K.-Y. Jen 及葉軒立(Hin-Lap Yip)。

研究背景：

有機(jī)太陽能電池（OPV）具備輕量、低成本、可撓曲以及溶液制程易于制造等優(yōu)勢，在新興的潔凈能源技術(shù)中備受矚目。典型的OPV器件采用三明治結(jié)構(gòu)，活性層被夾在兩個界面層之間，分別為鄰近陽極的電洞提取層（HEL）電子提取層（EEL）。這些界面層的整體性能對于實現(xiàn)高功率轉(zhuǎn)換效率（PCE）穩(wěn)定性十分重要。

在眾多HEL材料中，以咔唑（carbazole）為基礎(chǔ)的自組裝單分子層（SAM）因其高效的電荷提取能力而被廣泛應(yīng)用。然而，傳統(tǒng)的咔唑SAM存在一些限制：

•烷基連接基的限制：烷基連接基的長度會顯著影響電荷提取效率，其柔軟的特性也可能導(dǎo)致SAM在氧化銦錫（ITO）基板上排列不佳。

•咔唑的光氧化敏感性：咔唑本身富含電子，容易發(fā)生光氧化反應(yīng)，進(jìn)而影響器件的穩(wěn)定性。

解決方案

為了解決上述問題，本研究團(tuán)隊提出了一種新型的SAM分子設(shè)計策略：

•以剛性苯基取代柔軟烷基：苯基連接基具有更高的剛性和平面性，能夠促進(jìn)SAM的有序排列，提升電荷傳輸效率。

•利用苯基促進(jìn)電荷離域：苯基連接基可以參與咔唑單元的電子離域，降低其電子密度，進(jìn)而提高抗光氧化能力。

實驗過程與步驟

材料制備：

○SAM材料合成：合成了大橋鏈接(JJ37)和烷基鏈接(JJ36)的自組裝單分子層(SAM)模型。

○SAM溶液代表：將SAM粉末溶解在異丙醇(IPA)和甲苯的混合溶液中。

2.元件準(zhǔn)備：

○主軸準(zhǔn)備：將 ITO (氧化電感) 主軸旋涂 PEDOT:PSS。

○SAM層沉積：將SAM溶液旋涂到ITO基板上，然后進(jìn)行退火。大面積元件采用精密縫式涂布平臺印刷SAM層。

○活性層沉積：將活性層材料（例如 PM6:BTP-eC9:L8-BO、PM6:Y6、D18:BTP-eC9、PTB7-Th:PC71BM）旋涂到SAM層上，然后進(jìn)行退火。

○PNDIT-F3N 層沉積：旋涂 PNDIT-F3N 的甲醇溶液。

○電極蒸鍍：在PNDIT-F3N上蒸鍍Ag電極。

3.元件結(jié)構(gòu)：最終的元件結(jié)構(gòu)為 ITO/SAM 或 PEDOT:PSS/活性層/PNDIT-F3N/Ag。

4.元件穩(wěn)定性測試：在 N2 氣氛中和 UV 燈下，監(jiān)測元件在最大功率點 (MPP) 的作用。

研究成果表征

1.電流密度-電壓（J-V）曲線：

○研究團(tuán)隊使用Enlitech SS-F5太陽光模擬器在AM 1.5 G、100 mW cm-2的光照下，使用 Keithley 2400 源表，測量了基于不同HEL的OPV器件的J-V曲線。

推薦使用光焱科技Enlitech SS-X AM1.5G 標(biāo)準(zhǔn)光譜太陽光模擬器，AM1.5G濾光片采用先進(jìn)的電漿沉積技術(shù)制造，具有高光譜準(zhǔn)確性和優(yōu)異的耐用性，使用壽命延長三倍

○采用JJ36和JJ37的器件分別實現(xiàn)了19.22%和 19.70%的功率轉(zhuǎn)換效率（PCE）。這些數(shù)值在已報導(dǎo)的基于SAM HEL的OPV器件中。

Figure 3b 顯示了基于不同HEL（PEDOT:PSS、JJ36、JJ37）的組件的J-V曲線

Figure 3d 呈現(xiàn)了PCE的分布圖，突顯了JJ37組件的優(yōu)異性能

Figure S29 顯示了使用紫外線老化后的ITO/SAM薄膜和SAM溶液制備的組件的J-V曲線，用于評估SAM的穩(wěn)定性

2.外部量子效率（EQE）：

○研究團(tuán)隊使用Enlitech QE-R系統(tǒng)記錄了器件的EQE曲線。EQE譜的積分電流密度（Jcal）J-V曲線獲得的Jsc值高度吻合，驗證了器件的效率。在300到850 nm的波長范圍內(nèi)，SAM基器件的EQE有所提升，證實了超薄SAM具有最小化的寄生吸收和優(yōu)異的電荷提取能力。

推薦使用Enlitech QE-R量子效率光學(xué)儀，被500多個優(yōu)秀太陽能電池研究實驗室采用，近10年發(fā)表SCI論文1000余篇，包括Nature、Science、Joule、Advanced Materials等多家旗艦期刊。

Figure 3c 顯示了基于不同HEL的組件的EQE光譜

3. 穩(wěn)定性測試

在匹配AM1.5G光譜（300-1100 nm）的LED光源下，以反向掃描方向連續(xù)捕獲J?V曲線。進(jìn)行 MPP 追蹤，以及在加載模式下進(jìn)行光熱穩(wěn)定性測試。

PEDOT:PSS基組件在最初200小時內(nèi)遭受顯著的“刻錄”損失，然后逐漸在約350小時達(dá)到T80（初始PCE的80%）。

○JJ36基組件在大約811小時后達(dá)到T80，而JJ37基組件表現(xiàn)出出色的耐用性，在1165小時達(dá)到T80。

Figure 3e顯示了組件的MPP追蹤。

Figure S25顯示了PEDOT:PSS基組件在MPP追蹤下的組件性能衰減。

4.光譜分析

EQEFTPS：將有機(jī)太陽能電池（OPV）組件置于 Enlitech 的 FTPS (PECT-600) 系統(tǒng)中，分析 OPV 組件的亞帶隙吸收（sub-bandgap region），可以得到 Urbach 能量（EU），它表示材料的能量紊亂程度。

○Figure 4c,d 顯示了新鮮和老化組件的 EQEFTPS 譜，老化后的 JJ36 基組件的 Urbach 能量顯著增加，表明材料的能量紊亂程度增加，這可能是由于 SAM 薄膜的降解導(dǎo)致活性層內(nèi)形成陷阱態(tài)。老化后的 JJ37 基組件的 Urbach 能量幾乎不變，表明其具有更好的穩(wěn)定性。

5. 能量損失分析

•使用與Keithley 2400外部電流/電壓源表連接的Enlitech  REPS Pro系統(tǒng)測量EL光譜和量子效率。外加偏壓激發(fā)電致發(fā)光（EL），并測量EL光譜，EL測試用于評估非輻射復(fù)合。

推薦使用Enlitech REPS 鈣鈦礦與有機(jī)光伏Voc損耗分析系統(tǒng)，可以偵測低至^10-6% nit的弱光亮度

Figure 4a 顯示了新鮮和老化組件的EQEEL。

6. 瞬態(tài)光電流（TPC）衰減測量：使用脈沖光照射OPV器件，并記錄光電流隨時間的變化。JJ37基器件表現(xiàn)出最快的電荷提取速度，衰減時間為0.18 μs。(Figure S21)

7. 空間電荷限制電流（SCLC）法：構(gòu)建僅允許電洞傳輸?shù)钠骷Y(jié)構(gòu)，在黑暗條件下測量器件的電流-電壓（J-V）特性。（Figure S22）

8. 能級分析

l   循環(huán)伏安法（CV）：CV曲線的穩(wěn)定性反映了分子的電化學(xué)穩(wěn)定性。(Figure 2c,f ，Figure S13)

l   靜電表面電位（ESP）映射：使用計算化學(xué)方法模擬SAM分子的電子密度分布。JJ36在咔唑部分顯示出更高的電子密度，而JJ37的電子密度略有降低。

l   密度泛函理論（DFT）計算：使用DFT方法計算SAM分子的電子結(jié)構(gòu)和能級。JJ36的HOMO和LUMO均位于富電子的咔唑部分，且LUMO能級較高（-1.13 eV）；JJ37的HOMO和LUMO分布更分散，且LUMO能級更穩(wěn)定（降低約0.4 eV）。

l   紫外光電子能譜（UPS）：可以確定材料的功函數(shù)（WF）和價帶邊緣。(Figure S18)

9. SAM分子穩(wěn)定性分析

•紫外-可見光譜（UV-Vis）和光致發(fā)光（PL）光譜：UV-Vis光譜反映分子的吸收特性，J36溶液在紫外線照射48小時后，從透明變?yōu)榈S色，且吸收光譜發(fā)生顯著變化，PL強(qiáng)度顯著衰減，表明其發(fā)生了明顯的降解，而JJ37溶液幾乎沒有變化。(Figure 2a,d)

•核磁共振（1H NMR）光譜：提供分子結(jié)構(gòu)的信息，并檢測化學(xué)鍵的斷裂或形成。(Figure 2b,e)

•開爾文探針力顯微鏡（KPFM）：表面電位的變化反映了SAM分子的降解程度。(Figure 2i,j)

10. 其他表征

•X射線光電子能譜（XPS）：提供元素組成和化學(xué)態(tài)的信息。(Figure S15)

•原子力顯微鏡（AFM）：測量表面的粗糙度。(Figure S16)

•水接觸角測量：反映表面的潤濕性。(Figure S17)

•空氣穩(wěn)定性測試：反映分子在空氣中的穩(wěn)定性。(Figure S19)

研究總結(jié)

這項研究主要探討了分子設(shè)計策略對OPV器件中咔唑衍生的SAM性能的影響。通過用剛性的苯基連接基取代傳統(tǒng)的柔性烷基連接基，研究團(tuán)隊成功地微調(diào)了SAM分子內(nèi)的電子和電荷離域。 這種改進(jìn)使得形成的SAM更加致密、有序，不僅有效地調(diào)節(jié)了ITO的功函數(shù)，還增強(qiáng)了SAM抵抗紫外線輻射對OPV器件產(chǎn)生的不利影響。

•JJ37（含苯基連接基的SAM）相對于JJ36（含烷基連接基的SAM）展現(xiàn)出顯著改善的電洞提取能力和本征的光/電化學(xué)穩(wěn)定性。

•基于JJ37的OPV器件實現(xiàn)了令人印象深刻的19.70%的PCE，并展現(xiàn)出優(yōu)異的長期運(yùn)行穩(wěn)定性，在>1100小時后仍能保持其初始性能的80%，同時相較于基于JJ36的器件，具有更強(qiáng)的抗紫外線能力。

文獻(xiàn)參考自Advanced Functional Materials_DOI: 10.1002/adfm.202423178

本文章為Enlitech光焱科技改寫 用于科研學(xué)術(shù)分享 如有任何侵權(quán)  請來信告知