光致發光 (Photoluminescence, PL)，是指物質吸收光子后重新輻射出光子的過程，光致發光 (Photoluminescence, PL) 是物質發光的多種形式之一，物質吸收光子躍遷到較高能級的激發態后返回低能態，同時放出光子，故名 “光" 致發 “光"。
光致發光 (Photoluminescence，簡稱PL) 是冷發光的一種，指物質吸收光子 (或電磁波) 后重新輻射出光子 (或電磁波) 的過程。從量子力學理論上，這一過程可以描述為物質吸收光子躍遷到較高能級的激發態后返回低能態，同時放出光子的過程。
光致發光 (Photoluminescence, PL) 的過程，可分為三個階段：首先，當光照射在物質材料上時會被吸收，被稱為光激發，再來多余的能量會被材料傳遞出去，最后這多余的能量，再以發光的方式被釋放掉。因此，光致發光 (Photoluminescence, PL) 是一種探測材料電子結構的方法，與材料無接觸且不損壞材料，可以提供有關材料結構、成分及環境原子排列的信息。常用于帶隙檢測、雜質等級和缺陷檢測、復合機制以及材料質量鑒定。
圖一、光致發光 (Photoluminescence, PL) 過程的能量圖。
圖中越靠上方能階越高，也就是能量越大，基態 (ground state) 指的是所有電子在低能階的狀態，其他有額外能量的狀態則泛稱 “電子的激發態 (singlet state / excited state)"。當熒光物質受到激發光的照射，原本位于基態的電子因為吸收了光的能量，因而被激發到激發態。處于激發態的電子可經多種途徑回到基態。圖中若電子以放光的方式釋放能量回到基態，由此方式所放出的光，可廣義稱為 “熒光"。而此過程便稱為光致發光 (Photoluminescence, PL)。
光致發光量子產率 (Photoluminescence Quantum Yield, PLQY) 是衡量發光材料的重要指標，同時也是用來對材料進行初級分類的基本參數。光致發光量子產率 (Photoluminescence Quantum Yield, PLQY) 定義為發射的光子數量與吸收的光子數量的比例，如以下 PLQY 公式：
例如，如果材料吸收了 100 個光子并發射了 50 個光子，則其量子產率為 0.5 或 50%。
圖二、光致發光量子產率 (Photoluminescence Quantum Yield, PLQY) 的量測與計算。
進行光致發光量子產率 (Photoluminescence Quantum Yield, PLQY) 的量測時，會先量測一個空白對照組，量測出來的光譜 (黑色光譜曲線) 只有一個激發光的峰。之后再放入要測試光致發光量子產率 (Photoluminescence Quantum Yield, PLQY) 的樣品，在相同的光強下讓激發光打在樣品上，量測出來的光譜 (紅色光譜曲線) 除了有原來的激發光的峰之外，同時也會有一個熒光峰出現。比較兩條光譜曲線，可以發現樣品激發光的峰值強度會低于空白對照組的峰值強度，表示樣品吸收了部分的激發光。而在樣品的光譜曲線多出來的熒光峰，就是光致發光 (Photoluminescence, PL) 所產生熒光。
The quantum yield (Φ) of a radiation-induced process is the number of times a specific event occurs per photon absorbed by the system.
The fluorescence quantum yield is defined as the ratio of the number of photons emitted to the number of photons absorbed.
在大多數的應用中，效率 (efficiency) 的研究往往都是最被關注的一項關鍵指標，效率 (efficiency) 代表著投入系統的努力與從系統獲得的收益之間的比率。
在電致發光器件中，例如有機、鈣鈦礦或量子點 LED，如何極大化外部量子效率 (External quantum efficiency, EQE) 通常是驅動材料研究最主要的研究動機。但除了對器件架構和電氣性能進行精心設計外，效率 (efficiency) 還直接取決于所用發光材料的固有效率，也就是每個分子激發發射的光子之間的比率，是一個很重要的關鍵。而這種效率 (efficiency) 通常在光致發光 (Photoluminescence, PL) 實驗中量化，也就是所謂的光致發光量子產 (Photoluminescence Quantum Yield, PLQY)。
測量光致發光量子產率 (Photoluminescence Quantum Yield, PLQY) 常見有兩種方法：
第一種量測光致發光量子產率 (Photoluminescence Quantum Yield, PLQY) 的方法是采用比較法。比較法是過去較被經常使用的一種方法，其使用一些已知光致發光量子產率 (Photoluminescence Quantum Yield, PLQY) 數值的參考標準，分別量測參考標準，以及研究材料的對激發光的吸收率和發射的熒光光強，然后對照比較得到研究材料的光致發光量子產率 (Photoluminescence Quantum Yield, PLQY) 數值。但使用比較法有許多缺點與限制，包含可以用來作為參考標準的物質不多，也需要找到與研究材料對激發與吸收特性接近的參考標準。而且每一次實驗都要做額外的參考標準制備，大大地增加實驗的花費與時間。
第二種量測光致發光量子產率 (Photoluminescence Quantum Yield, PLQY) 的方法是絕對量子產率測量方法，也就是直接使用積分球來量測光致發光量子產率 (Photoluminescence Quantum Yield, PLQY)。包括一個激發光源，可以是雷射或 LED，激發光源照射到位于積分球內的發光材料，然后把所有反射、透射或發射的光都被收集在球體內，隨后使用光譜儀采集光譜來檢測。
步驟1. 激發光源架設 (本篇以405 nm雷射為例)：激發光源利用光纖耦合接上光纖，連接至積分球。
圖三：左圖為一個 405 nm 雷射光源，帶光纖耦合套件，激發光可以透過光纖導出。右圖則是量測 (Photoluminescence Quantum Yield, PLQY) 所使用的積分球，側邊安裝光學模塊可以連接光纖，并將激發光導入積分球內。
步驟2. 準備樣品：準備要量測光致發光量子產率 (Photoluminescence Quantum Yield, PLQY) 的測試樣品及空白對照，比如涂布薄膜的樣品，其空白對照就是未涂布薄膜的玻璃基板。
圖四：右圖的 Sample 是待量測光致發光量子產率 (Photoluminescence Quantum Yield, PLQY) 的薄膜樣品，左圖的 Blank 是對照于右圖樣品，為涂布薄膜的玻璃基板。
步驟3. 分別將空白對照與要量測光致發光量子產率 (Photoluminescence Quantum Yield, PLQY) 的樣品放入積分球內，注意要垂直放入以避免樣品掉出，樣品架放入的方向也需要注意，將反射鏡的方向對準激發光入射的方向。
圖五：PL 樣品架的方式是由積分球上方放入，將樣品放入樣品架的凹槽中，并將反射鏡與樣品朝左方 (激發光入射方向) 擺入。
步驟4. 調整量測條件：首先，激發光光強可以照測試需求進行調整，可利用鼠標移動輸出調整桿，或直接輸入需要的功率，100% 表示全功輸出，依此類推。第二步是調整光譜儀量測時間，需要配合上一步激發光強的條件進行調整，提高積分時間可使光譜訊號可以有很高的訊噪比 (100:1以上會是比較好的)，也不能設定太長，太長的時間除了影響測試時間外，也可能會因為訊號太強導致光譜數值飽和，數據失真。
圖六：量測軟件上用來調整激發光功率輸出、訊號讀取以及進行初步測試的接口。
其中 Power 控制激發光的輸出功率，可手動輸入或用拉桿調整。SPM 的 Int_Time 則是可以輸入光譜儀的積分量測時間，最后在點擊上方 Pre Test 按鈕來量測光譜，以檢視設定的條件是否合適。
步驟5. 光譜量測：分別量測空白對照與樣品的熒光光譜，藍色光譜為空白對照光譜，而綠色則是要量測光致發光量子產率 (Photoluminescence Quantum Yield, PLQY) 的樣品光譜，由于有光致發光 (Photoluminescence, PL)，因此可以看到在激發光波長范圍內，樣品的光譜低于空白對照，表示部分激發光已被樣品吸收，然后在熒光的波長范圍，可以看到樣品的熒光光譜出現，而原本的空白對照則是沒有的。
圖七：光致發光量子產率 (Photoluminescence Quantum Yield, PLQY) 的量測軟件畫面。
左邊對應的功能分別是 (A) Blank 空白對照量測, (B) 樣品量測, (C) 計算光致發光量子產率 (Photoluminescence Quantum Yield, PLQY)。中央的光譜顯示圖中，藍色光譜為空白對照光譜，而綠色則是要量測光致發光量子產率 (Photoluminescence Quantum Yield, PLQY) 的樣品光譜。黑色虛線為選擇的激發光計算范圍，橘色虛線為選擇的熒光計算范圍。
步驟6. 選擇計算波長范圍：分別選擇要計算的激發光波長范圍與熒光波長范圍后，按下計算功能，便可計算出光致發光量子產率 (Photoluminescence Quantum Yield, PLQY)。
光致發光 (Photoluminescence, PL) 與光致發光量子產率 (Photoluminescence Quantum Yield, PLQY) 是研究材料表征的重要工具，目前材料測試面臨挑戰有以下三點：
(1) PLQY 無法在手套箱內測試。
(2) PLQY 無法進行原位時間光譜解析。
(3) PLQY 紅外波段擴展不易。
手套箱是將高純惰性氣體充入箱體內，并透過循環過濾掉其中如水氣、氧氣以及其他有機氣體等活性物質的實驗室設備，許多發光組件的制程都會在手套箱內完成，例如要將發光材料涂布到玻璃基板上所使用的旋轉涂布機，都會放置在手套箱內，以避免甩膜的時候，用來溶解材料的有機氣體揮發，影響到人員的健康安全；又或者在手套箱內的環境條件比較單純，可避免許多外在環境條件的干擾，因此當材料甩膜后，最佳狀態下就是能在手套箱內直接測試材料的光致發光 (Photoluminescence, PL) 與光致發光量子產率 (Photoluminescence Quantum Yield, PLQY)。
然而常見的手套箱空間大小，大約只有 1800 mm (L) × 750 mm (W) x 900 mm (H)，如果已經擺放了旋轉涂布機以及一些其他必要的設備之后，剩余的空間就顯然不足以再擺放一臺大型的測試設備。Enlitech 的 LQ-100X-PL 以緊湊的設計，尺寸大小 502.4mm(L) x 322.5mm(W) x 352mm(H)，搭配 4 吋外徑 PTFE 材質的積分球，并且整合 NIST 追溯的校準，讓手套箱整合 PL 與 PLQY 成為可能。
圖八：Enlithch 的 LQ-100X 設備放入手套箱的實際拍攝照片。
LQ-100X 采用緊湊的設計，并且也考慮了操作人員在手套箱內操作的方便性，以有效率地利用手套箱內窄小的活動空間。
圖九：手套箱空間規劃配置實拍。
照片中的手套箱為基本的兩只手套配置 (前面板暫時拆除)，手套箱空間內為 Enlithch 的 LQ-100X-PL 的配置，包含積分球與激發光源，所占用的面積僅有大約手套箱的一半，左邊的空間還可以依照其他測試需求擺放其他設備。圖左邊為 Enlithch 的太陽光模擬器量測載臺，太陽光模擬器安裝于手套箱下面，由下往上打光照進手套箱內。
圖十：他牌的PLQY量測設備。
他牌的PLQY量測設備都需要占用比較大的擺放空間，所以無法放入手套箱中使用。(圖片擷取自網絡)
另外如前面描述的，由于許多發光材料的制程多在手套箱內進行，許多材料表征技術的測試，需要盡可能在制作完成的當下就直接進行量測，例如原位時間 PL 光譜解析。 Enlitech 的 LQ-100X-PL 利用先進的儀表控制程序，可以進行原位時間 PL 光譜解析，并且可產生 2D 與 3D 圖表，用戶可以更快地表征材料在原位時間的變化。
圖十一：原位時間 PL 光譜解析。
LQ-100X-PL 可提供隨著時間記錄光譜的量測功能，提供不同方式的呈現結果：(A) 左上: 3D 光譜變化圖, (B) 右上: 2D 光譜疊圖, (C) 左下, 所有時間的光譜數據, (D) 右下: 2D 強度漸層圖。
Enlitech 的 LQ-100X-PL 系統光學設計可容易的做紅外擴展，波長由 1000 nm 至 1700 nm。粉末、溶液、薄膜樣品都可兼容測試。
圖十二：PLQY 應用與實際案例 1。
本篇論文使用一種介質退火技術 (LMA) 來調控整片混合鈣鈦礦薄膜晶體的成長，提升了鈣鈦礦太陽能電池 (PSC) 功率輸出的穩定性。下圖為使用 LMA 技術的薄膜與使用參考技術的薄膜其 PLQY 量測結果，可以看出使用 LMA 技術的制程，相較于參考制程所量測到的 PLQY 要來的高。
圖十三：PLQY 應用與實際案例 2。
本篇論文研究堿金屬離子對于對 Quasi-2D (Q-2D) 鈣鈦礦的成核和生長的影響，研究結果證實了一種新的方法優化 Q-2D 鈣鈦礦 LED 的性能。下圖為 Q-2D 鈣鈦礦添加的 KBr 濃度越高，量測的 PLQY 也越高，此現象與 LED 組件的發光強度成正相關。
圖十四：PLQY 應用與實際案例 3。
本篇論文使用乙氧基化三羥甲基丙烷三丙烯酸酯 (ETPTA) 作為溶解在反溶劑中的功能性添加劑引入在甩膠制程 (spinning process) 中鈍化表面 (passivate surface) 和體缺陷 (bulk defects)。ETPTA 可以通過鈍化有效地降低電荷俘獲狀態抑制缺陷，減少了非輻射復合損耗并提升發光效率。下圖為有無添加 ETPTA 所量測到的 PLQY 比較，有 ETPTA 組別具有較高的 PLQY，也相對具有較高的發光效率。
